3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。

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X-MET 手持式 X 射线荧光光谱仪专为以下应用而设计： 材料可靠性鉴定(PMI)  金属鉴定/废旧金属分拣  合金分析及有害物质分析（RoHS筛选）  受污染土壤重金属分析及采矿现场矿石分析  玩具中含铅筛选  涂料中铅检测 

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 仪器介绍针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。性能特点下照式：可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片

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专业RoHS检测 内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

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ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

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X-MET7500手持式XRF分析仪

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更快！更轻！更小！微合金钢的质量控制/保证精确的铝和镁合金分析痕量元素分析低含量铬分析，流动加速腐蚀(FAC)检测检查管道和焊接是否耐腐蚀鉴别细至1毫米直径的线材只需要几秒钟测量的表面温度高可达400℃（仅限 X-MET7000）

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